絕緣電阻測試儀 型號JN12-MS2675DN 庫號D398239

庫號：D398239 

測試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時:1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測試電壓、絕緣電阻、時間同時測量，單片微處理器
控制測試，測試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報警。
  
測試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時:1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測試電壓、絕緣電阻、時間同時測量，單片微處理器
控制測試，測試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報警。
  
測試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時:1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測試電壓、絕緣電阻、時間同時測量，單片微處理器
控制測試，測試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報警。
  
測試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時:1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測試電壓、絕緣電阻、時間同時測量，單片微處理器
控制測試，測試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報警。

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